X射線衍射儀（XRD）測試分析介紹

XRD的基本原理：

X射線與物質作用時，就其能量轉換而言，一般分為三部分，其中一部分被散射，一部分被吸收，一部分通過物質繼續(xù)沿原來方向傳播。散射的X射線與入射X射線波長相同時對晶體將產生衍射現象，即晶面間距產生的光程差等于波長的整數倍時。將每種晶體物質的衍射花樣與標準衍射花樣對比，利用三強峰原則，即可鑒定出樣品中存在的物相。

X-射線的產生是由在X-射線管（真空度10-4Pa）中有30-60KV的加速電子流，沖擊金屬（如純Cu或Mo）靶面產生。常用的射線是MoKα射線，包括Kα1和Kα2兩種射線（強度2:1），波長為71.073pm。

應用：主要用于物相分析、晶體結構分析、織構分析，晶胞參數、結晶度、晶型含量等的測定